在實踐中，納米粒度儀用于確定粒徑的各種測試方法，除了顯微鏡和全息術之外，不觀察單個粒子，而是確定粒子系統的粒度相關性質，然后計算第一章粉末。材料的粒度和測量的基礎粒度值。即使在微觀和全息方法中，單個理論定義也不用于觀察單個粒子，并且直接使用一些人工定義的等效直徑。為了表征顆粒的尺寸，通常使用等效的顆粒尺寸，也稱為等效顆粒尺寸。當顆粒具有與均勻球體相同的特性時，顆粒的等效顆粒尺寸是指假定相同的球體直徑。對于不規則形狀的顆粒，其顆粒尺寸是測量方向的函數，并且是物理測量方法的函數，因此在不同條件下以不同方式測量相同顆粒并且測量的顆粒尺寸值不同。由于大多數顆粒的形狀是不規則的，因此可能非常復雜。
 

　　納米粒度儀在實際應用中，難以精確測量它們的粒徑，并且“粒度值”的“一維參數”用于描述不規則粒子的大小。它本身非常粗糙和不準確，因此一些學者提出“在粒度測量中，如果粒子形狀是非球形的，那么粒子沒有真正的粒徑，也就是說，被測物體沒有真實的價值。粒度分布在工業生產中，遇到大量處于整體狀態的粒子系統。粒度測量工作是對大量粒子的統計研究，即測量粒子系統的粒度分布。粒度分布是指粒子系統中系統中不同尺寸的粒子的比例。根據測量儀器和研究，粒度分布具有不同的表達，例如重量的比率或頻率，粒子的體積或數量相對于粒子的粒徑等。通常有三種表示：數量形成。1.2.3顆粒尺寸的簡單表征-特征顆粒尺寸顆粒尺寸分布可以完整和詳細的方式描述粉末樣品的顆粒尺寸。
 

　　影響納米粒度儀測試結果的因素
 

　　(1)復折射率
 

　　激光散射法粒度測量的對象一般是微米級的粒子，這些粒子的光學常數并不能簡單看成粒子材料的光學性質，而是指顆粒的復折射率n’，其定義為：n‘=n+ik。其中n為通常所說的折射率，虛部k表示光在介質中傳播時光強衰減的快慢，即吸收系數，有時也被稱作吸收率。
 

　　復折射率的選擇合適與否直接影響到粒度檢測結果的準確性與可靠性，但是影響待測顆粒復折射率的因素較多，難以確定其準確值，所以到目前為止在激光粒度測量領域中仍舊沒有確定復折射率的統一方法。在實際的粒度檢測過程中，一般只是對同種物質使用一個固定的復折射率，這樣的測量結果必然會與樣品的真實值有較大偏差。但是如果針對不同粒度區間的顆粒都去尋找其復折射率，卻又不現實的。
 

　　(2)折射率
 

　　Mie散射理論是麥克斯韋電磁方程組的嚴格解，激光法檢測的前提假設是粉體粒子是球形且各向同性的，大多數晶體在不同的方向上有不同的折射率。由于不同廠家的設備中光能探測器的數量、空間分布位置、靈敏度的不同也會導致檢測結果的差異。
 

　　(3)內置算法
 

　　由于光強分布的差異，不同生產廠家所采用的軟件內置算法不同，造成系數矩陣的計算結果差異，由此給反演帶來不同程度的誤差。
 

　　(4)內外復折射率
 

　　球形石英粉等顆粒，在高溫環境下燒灼成型。由于既要成球，又要熔透轉變為非晶型或不定形，其技術難度很高。所以在生產過程中會有部分無定形態的熔融石英包裹在結晶石英上，以及熔融石英內部含有空心氣泡。這種顆粒被稱為雙層顆粒，顆粒內外復折射率不同，導致激光法測量時可能帶來較大誤差，據相關文獻，最大誤差可能超過50%。
 

　　(5)反常異動現象
 

　　有研究者發發現在有些折射率下對于部分粒徑區間，隨著粒徑的變小，散射光強分布主峰會向探測器內側移動，而正常情況下應向探測器外側移動，從而影響粒度檢測的結果。這種現象被稱為散射光能分布的反常移動現象。
 

　　(6)分散狀態
 

　　使用檢測過程中，需注意保證待測顆粒處于良好的分散狀態。當前市面上的主流納米粒度儀，基本上都帶有離心循環分散和超聲分散兩種分散模式，所以對于這種類型儀器的用戶，不建議測試前的機外分散，因為在用燒杯將分散后的溶液導入循環槽的過程中極易在杯底殘留部分大顆粒，導致測試結果產生誤差。在儀器中分散樣品時，應注意根據物料性質調整超聲和離心循環分散的功率，太大容易導致氣泡的產生，太小則容易導致分散效果變差和大顆粒沉底。
 

　　(7)儀器的保養程度
 

　　保養程度，對檢測結果有較大影響。需要定期標定維護。在實際的使用過程中發現，部分樣品極易在測試過程中附著在儀器的管路內部，從而混入之后的測試樣品中帶來測試誤差。而儀器自帶的清洗功能很難解決這類問題，需要在激光粒度測量中引起足夠重視。